Plusieurs équipements de pointe permettent la synthèse, l'irradiation, la fonctionnalisation et l'analyse d'échantillons :

  • Spectroscopie photoélectronique à rayons X (XPS)
  • Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS)
  • L'analyse par faisceau d'ions (IBA)
  • La fonctionnalisation par faisceaux d'ions (IBMM)
  • Le traitement par plasma (PECVD, DC, RF et AC)

Les équipements et technologies associés

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Un chercheur faisant des réglages sur une ligne de l'accélérateur ALTAIS de la plateforme SIAM

IBMM - Modification par faisceaux d'ions

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Un chercheur effectuant des réglages sur un équipement

PECVD, DC, RF et AC - Traitement par plasma

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Un chercheur effectuant des manipulations sur un équipement de pointe

ToF-SIMS et IONTOF - Composition chimique et distribution

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Gros plan sur un équipement de pointe de la plateforme SIAM

XPS - Spectroscopie Photoélectronique à rayons X

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Synthèse, Irradiation et Analyse de Matériaux (SIAM)