ToF-SIMS signifie « Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry » (spectrométrie de masse à ions secondaires à temps de vol), une technique d'analyse sensible à la surface utilisée pour déterminer la composition chimique et la distribution des matériaux à l'échelle nanométrique.

Cette technique permet : 

• La détection de traces de contaminants dans différentes matrices (application dans l'électronique, le photovoltaïque...) ;
• L'Imagerie élémentaire et moléculaire d'échantillons de polymères.