L'XPS est une technique sensible à la surface qui utilisent des photons incidents pour éjecter des électrons d'un échantillon, permettant ainsi d'analyser sa composition élémentaire et sa structure électronique.

Cette technique permet :

• Le profilage multicouche des métaux ;
• La détection de problèmes de corrosion et leur origine ;
• La détermination des états d'oxydation des couches.