Acquis d'apprentissage

Ce cours est destiné à familiariser les étudiants aux différentes techniques d'analyse de surfaces et d'interfaces utilisant des faisceaux d'électrons et des faisceaux d'ions de basse et haute énergie.

Objectifs

Donner aux étudiants du master en physique en FA une connaissance théorique des méthodes principales d'analyse de surfaces et d'interfaces, utilisées pour la recherche académique et industrielle.

Contenu

Spectrosopies électronique et ionique à basse énergie (L. Houssiau, 15h)

  1. X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
  2. Auger electron spectroscopy (AES)
  3. Secondary ion mass spectrometry (SIMS et ToF-SIMS)
  4. Low energy ion scattering (LEIS)

Spectrométries ioniques à hautes énergies (J. Colaux, 15h)

  1. Interactions des ions avec la matière (perte d'énergie, étalement énergétique, sections efficaces de réactions)
  2. Rutherford Backscattering Spectrometry (RBS)
  3. Elastic Recoil Detection (ERD)
  4. (Resonant) Nuclear Reaction Analysis (NRA ou RNRA)
  5. Particle-Induced X- or Gamma-ray Emission (PIXE ou PIGE)
  6. Détection de rayonnements ou de particules (chargées ou non)

 

Méthodes d'enseignement

Cours magistral, illustré principalement par des présentations PowerPoint.

Méthode d'évaluation

L'évaluation de la partie sur les spectrocopies electronique et ioniques à basse énergie donnée par L. Houssiau se fera sous la forme d'un examen oral avec préparation.

L'évaluation de la partie spectrométries ioniques à hautes énergies donnée par J. Colaux se fera sous la forme d'un examen oral avec préparation (en session de janvier ou août).

Sources, références et supports éventuels

Physique nucléaire 1re partie (G. Terwagne - Librairie des Sciences, FUNDP) Physique nucléaire 2e partie (G. Terwagne - Librairie des Sciences, FUNDP)

Langue d'instruction

Français